冠测新款高低频介电常数测试仪

产品介绍

半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

测试电桥参数 

测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 

测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进 

测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） 

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 

输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 

公司以精美的产品、精良的品质、精心的服务赢得了广大用户和市场，拥有一大批国内外科研院所及企业用户。

服务：具有完备的售后服务体系

技术：自主研发+高校实验室联合开发

品质：对产品的精益追求+严格规范的测试

价格：科学的管理成本+高效率合作降低成本

冠测新款高低频介电常数测试仪

测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 

等效方式 串联方式, 并联方式 

量程方式 自动, 保持 

显示方式 直读, Δ, Δ% 

触发方式 内部, 手动, 外部, 总线 

冠测新款高低频介电常数测试仪