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高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

  • 产品型号:GCSTD-B
  • 更新时间:2022-08-03
  • 产品介绍:高分子材料介电常数及介质损耗测试仪:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

         ASTM D150/IEC 60250

  • 概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

  • 仪器的技术指标

  1Q值测量

  aQ值测量范围:21023

  bQ值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档。





注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则

  4.信号源频率覆盖范围

   


频率范围

10kHz50MHz

频率分段

(虚拟)

1099.9999kHz

100999.999kHz

19.99999MHz

1060MHz      

频率指示误差

3×10-5±1个字


  5Q合格指示预置功能

预置范围:51000

  6Q表正常工作条件

  a.  环境温度:0+40                                          

b.相对湿度:<80%;  

c电源220V±22V50Hz±2.5Hz

  7其他

    a消耗功率25W  

b净重7kg  

c. 外型尺寸:(l×b×hmm380×132×280

  8.产品配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一套

  9、样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM  厚度为0.5-15MM      


高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

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