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产品详细页
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
- 产品型号:GCSTD-B
- 更新时间:2022-08-03
- 产品介绍:高分子材料介电常数及介质损耗测试仪:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。
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产品介绍
满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
ASTM D150/IEC 60250
概述
:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
仪器的技术指标
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4.信号源频率覆盖范围
项 目 | |
频率范围 | 10kHz~50MHz |
频率分段 (虚拟) | 10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~60MHz |
频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
5.Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。
6.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
8.产品配置:
a.测试主机一台;
b.电感9只;
c.夹具一套
9、样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM 厚度为0.5-15MM
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
高分子材料介电常数及介质损耗测试仪
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