高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

产品介绍

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

         ASTM D150/IEC 60250

• 概述

：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

• 仪器的技术指标

  1．Q值测量

  a．Q值测量范围：2～1023。

  b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则

  4．信号源频率覆盖范围

  5．Q合格指示预置功能

预置范围：5～1000。

  6．Q表正常工作条件

  a.  环境温度：0℃～+40℃；                                          

b．相对湿度：<80％；  

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

  7．其他

    a．消耗功率：约25W；  

b．净重：约7kg；  

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

  8．产品配置：

a.测试主机一台；

b.电感9只；

c.夹具一套

  9、样品尺寸：直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM  厚度为0.5-15MM      

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪

高分子材料介电常数及介质损耗测试仪