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高低温介电温谱测试金属氧化物

高低温介电温谱测试金属氧化物

  • 产品型号:GCGW-A
  • 更新时间:2022-04-22
  • 产品介绍:高低温介电温谱测试金属氧化物主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用,用于测试材料的电阻温度特性,介电温谱/频谱特性。本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

产品概述:



产品概述:

本试验台主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用,用于测试材料的电阻温度特性,介电温谱/频谱特性。

本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。

技术参数:

1、 加热方式:电加热

2、 制冷方式:液氮制冷

3、 控温精度:0.5°C

4、 *温度:400°C

5、 制冷温度:-50°C

测试主机选配:

1、 导体电阻率试验仪

2、 半导体电阻率试验仪

3、 绝缘体电阻率试验仪

4、 LCR电桥


以上降温数据,可以作为注入液氮降温的参考数据,

根据自己的实际应用情况,进行液氮量的调节。

板中的开口应为75±1mmxl25±lmm[3.O±O.O5in.x5.O±O.O5in.],与试样接触的范围内板的平面度应在0.1mm[0.005in.]以内


开始按照设置参数测试。按【直接试验】,进入试验界面,跳过升温过程,直接按照设置参数设置。按【退出】,回到主菜单。按【历史数据】,弹出如下键盘界面(如图9)。按【上下按钮】,进行翻阅。按【打印】,打印当前页面数值。按【数据清空】,清空存储的历史数据。按【退出】,退出当前界面。按【其他设置】键,进入其他数据设置画面(如图10)。按【设置背光亮度】,弹出键盘,输入亮度数值即可

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