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介电温谱特性测定仪

介电温谱特性测定仪

  • 产品型号:GCGW-A
  • 更新时间:2022-04-22
  • 产品介绍:介电温谱特性测定仪主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用,用于测试材料的电阻温度特性,介电温谱/频谱特性。本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

产品概述:

本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。


以上降温数据,可以作为注入液氮降温的参考数据,

根据自己的实际应用情况,进行液氮量的调节。


而试样运动引起的振荡是真实施加到试样上的力,所以不应被过滤掉或光滑掉。对这两个原因。

对打算用于进行随后剩余强度试验的试样,对试样长度和宽度的测量应使用千分尺,以保证对两种试验方法具有一致的测量精度。7.2支持夹具——如图1和2所示的冲击支持夹具应使用至少20mm[0.75in.]厚的铝板或钢板。

板中的开口应为75±1mmxl25±lmm[3.O±O.O5in.x5.O±O.O5in.],与试样接触的范围内板的平面度应在0.1mm[0.005in.]以内


开始按照设置参数测试。按【直接试验】,进入试验界面,跳过升温过程,直接按照设置参数设置。按【退出】,回到主菜单。按【历史数据】,弹出如下键盘界面(如图9)。按【上下按钮】,进行翻阅。按【打印】,打印当前页面数值。按【数据清空】,清空存储的历史数据。按【退出】,退出当前界面。按【其他设置】键,进入其他数据设置画面(如图10)。按【设置背光亮度】,弹出键盘,输入亮度数值即可

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