全自动恒温实验台测试介质损耗频率

产品介绍

产品概述：

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本试验台主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用，用于测试材料的电阻温度特性，介电温谱/频谱特性。

本试验台可以设定温度，自动加热，并保持恒温，控温精度高。

技术参数：

1、 加热方式：电加热

2、 制冷方式：液氮制冷

3、 控温精度：0.5°C

4、 *温度：400°C

5、 制冷温度：-50°C

测试主机选配：

1、 导体电阻率试验仪

2、 半导体电阻率试验仪

3、 绝缘体电阻率试验仪

4、 LCR电桥

以上降温数据，可以作为注入液氮降温的参考数据，

根据自己的实际应用情况，进行液氮量的调节。

而试样运动引起的振荡是真实施加到试样上的力，所以不应被过滤掉或光滑掉。对这两个原因。

对打算用于进行随后剩余强度试验的试样，对试样长度和宽度的测量应使用千分尺，以保证对两种试验方法具有一致的测量精度。7.2支持夹具——如图1和2所示的冲击支持夹具应使用至少20mm[0.75in.]厚的铝板或钢板。

板中的开口应为75±1mmxl25±lmm[3.O±O.O5in.x5.O±O.O5in.],与试样接触的范围内板的平面度应在0.1mm[0.005in.]以内

开始按照设置参数测试。按【直接试验】，进入试验界面，跳过升温过程，直接按照设置参数设置。按【退出】，回到主菜单。按【历史数据】，弹出如下键盘界面（如图9）。按【上下按钮】，进行翻阅。按【打印】，打印当前页面数值。按【数据清空】，清空存储的历史数据。按【退出】，退出当前界面。按【其他设置】键，进入其他数据设置画面（如图10）。按【设置背光亮度】，弹出键盘，输入亮度数值即可

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