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全自动恒温实验台测试介质损耗频率
- 产品型号:GCGW-A
- 更新时间:2022-04-22
- 产品介绍:全自动恒温实验台测试介质损耗频率主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用,用于测试材料的电阻温度特性,介电温谱/频谱特性。本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。
- 在线留言 010-57223838
产品介绍
产品概述:
产品概述:
本试验台主要配合导体电阻率、半导体电阻率、绝缘体电阻率主机及国内和进口LCR电桥使用,用于测试材料的电阻温度特性,介电温谱/频谱特性。
本试验台可以设定温度,自动加热,并保持恒温,控温精度高。
技术参数:
1、 加热方式:电加热
2、 制冷方式:液氮制冷
3、 控温精度:0.5°C
4、 *温度:400°C
5、 制冷温度:-50°C
测试主机选配:
1、 导体电阻率试验仪
2、 半导体电阻率试验仪
3、 绝缘体电阻率试验仪
4、 LCR电桥
以上降温数据,可以作为注入液氮降温的参考数据,
根据自己的实际应用情况,进行液氮量的调节。
而试样运动引起的振荡是真实施加到试样上的力,所以不应被过滤掉或光滑掉。对这两个原因。
对打算用于进行随后剩余强度试验的试样,对试样长度和宽度的测量应使用千分尺,以保证对两种试验方法具有一致的测量精度。7.2支持夹具——如图1和2所示的冲击支持夹具应使用至少20mm[0.75in.]厚的铝板或钢板。
板中的开口应为75±1mmxl25±lmm[3.O±O.O5in.x5.O±O.O5in.],与试样接触的范围内板的平面度应在0.1mm[0.005in.]以内
开始按照设置参数测试。按【直接试验】,进入试验界面,跳过升温过程,直接按照设置参数设置。按【退出】,回到主菜单。按【历史数据】,弹出如下键盘界面(如图9)。按【上下按钮】,进行翻阅。按【打印】,打印当前页面数值。按【数据清空】,清空存储的历史数据。按【退出】,退出当前界面。按【其他设置】键,进入其他数据设置画面(如图10)。按【设置背光亮度】,弹出键盘,输入亮度数值即可
全自动恒温实验台测试介质损耗频率全自动恒温实验台测试介质损耗频率