粉末微粒电阻率测试仪

产品介绍

粉末微粒电阻率测试仪产品概述：

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。

仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业

仪器主要技术指标：

一、 测量范围：

测量半导电电阻率时： 电阻率10-6—105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm

测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ

二、 电压测量：

1．  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3．  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

三、 恒流源：

1．  电流输出： 10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0.5A、1A、10A

2.    电流误差：±(0.5%读数+2字)

四、 数据打印：

粉末微粒电阻率测试仪可对测试结果进行打印，显示结果为：体积电阻率、电阻

对于更高频率下的测量，应采用两电极系统，圆形的等直径同轴电极；薄膜材料。内电极应由能与试样表面良好接触并且不会导致因接触电阻或污染试样而引起明显误差的材料组成。注：应用非接触电极方法进行高频下的损耗因数测量可能更准确，这是因为由内电极产生的介质损失随频率而增加的缘故。在试验条件下，电极材料应能耐腐蚀。这些电极应与背托电极一起使用。如果测量非常薄的薄膜（2或更薄）。

为了避免在背托电极定位时破坏试样，层铝箔。建议确定电极是否影响测试结果，可以通过应用两种不同类型电极，然后对其结果进行比较而实现。只要样品材料不受真空处理或离子辐射产生较大影响，大多数推荐的电极类型是由蒸发或真空喷镀金属制成的，通常铝、银或金也可用做电极材料。镀层厚度约为150nm的金属膜，可在电气性能方面展现出好结果，并且在金属沉积过程中对样品材料产生低的应力。应用遮框制造电有非常精确的边缘，蒸发之前，箱内真空度应为5.25X10-3mPa或更低。在蒸发过程中，成膜速率大约为1nm/so通过产生电极的材料的蒸发，借助电容器在其上放电而形成的电极沉积，通常是一种不受控制的短暂过程。喷镀电极在喷镀过程中施加于样品上的应力、质量和性能取决于气体选择、反应箱内的气体压力、施加电压和样品在反应箱内的位置。

建议按所选择喷镀设备选定条件的佳参数。金属化试样不能在金属化后立即测量，例如，由于需要暴露于大气条件处理一段时间，应注意把电极腐蚀的影响降低到小程度。在这种情况下，推荐使用蒸发的金电极，这对低损耗因数的材料，如对聚丙烯特别重要