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高低频介电常数测定仪
- 产品型号:GCSTD-D
- 更新时间:2023-04-18
- 产品介绍:高低频介电常数测定仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
- 在线留言 010-57223838
产品介绍
高低频介电常数测定仪
率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数
的测试方法
试验方法:
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料
电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ
内建比较器,10档分选及计数功能
多种通讯接口方便用户联机使用
2m/4m测试电缆扩展(选件)
中英文可选操作界面
可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
测试材料:
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件
等的阳抗参数评估和性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
测试电桥参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
高低频介电常数测定仪