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新款压汞法测试仪

新款压汞法测试仪

  • 产品型号:GCYG200
  • 更新时间:2020-09-22
  • 产品介绍:新款压汞法测试仪是基于在精控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精及分析范围广等优点外,压汞仪还可得到样品众多特性,例如:孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度(堆积密度和骨架密度)。
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产品介绍

一、测试原理:

 

压汞法孔隙度测试分析技术是基于在精控制的压力下将汞压入孔结构中的方法实现的。除高速、精及分析范围广等优点外,压汞仪还可得到样品众多特性,例如:孔径分布、总孔体积、总孔比表面积、中值孔径及样品密度(堆积密度和骨架密度)。

孔隙度通常包括材料孔径、孔体积、孔径分布、密度和其他孔隙度相关特性的测量。孔隙度对于了解物质组成、结构和应用是非常重要的。材料的孔隙度影响其物理属性从而影响其在周围环境下的行为,影响材料的吸附性和渗透性、强度、密度和其他性质。

 

二、性能参数:

1. 孔直径测试范围:30nm至600μm ;

2. 孔隙体积测试范围:0.3-3.5cc ;

3. 测量精度:≤ 0.5% ;

4. 分析站:1个独立样品分析站,样品室*体积15cc ;

5. 工作压力范围:0.01-50Mpa,采用双路压力测量技术 ;

6. 试验压力:60Mpa ;

7. 静压力头: ≤20mmHg ;

8. 空白值: 50Mpa时约0.25ml ;

9. 具有严格的汞安全防护措施,有效避免汞蒸气对室内环境的影响 ;

10. 真空泵:双极机械真空泵,极限真空度0.05Pa ;

11. 分析模型:累计总孔体积、累计比表面积、平均孔径、孔径分布(孔隙度)曲线、孔喉比、注汞/退汞曲线等等;

12. 样品类型:固体颗粒样品或块状固体样品;

 

三、产品特点:

GCGY200型压汞仪主要由真空系统样品室系统、加压系统、测量控制系统四部分组成。

1. 真空系统:主要是由一台双级泵和真空传感器组成,极限真空度为 0.05Pa;

2. 样品室系统:耐高压、耐真空,空白值小,测量精度高,稳定性强。利用重力差原理,在正压环境下进行压力测量技术,方便、适用,保证了整个试验的连续性、稳定性、可靠性和完整性。

3. 加压系统:可为测试过程提供0-50Mpa(7250psi)压力,可无级调速控制泵速度的快慢及加退压。

4. 测量控制系统:由压力测量、电容测量、真空测量三部分组成。压力测量由两路压力变送器和数字压力表来完成压力的计量。电容测量是由电容仪电容变送器和数字显示器来完成。真空测量是由真空硅利用热偶原理实现对样品室内真空度的测量。

5. 具有严格的汞安全防护措施,有效避免汞蒸气对室内环境的影响 。

 

 

 

5.1.4

在测量之前去掉叠层的外层和内层(实际测量十层),再进行#!量。叠层试样测量厚度除以10,得到单层薄膜厚度,取其平均值作为试验结果,并报告大值和小值。4.2.1原理:按ISO1991中的第1部分,根据测定的质量、面积和密度计算样品的厚度。分析天平感量。在薄膜卷上取三片长方形试样,每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积,用分析天平测量试样质量。按本部分第5章规定测量试样的密度。h——试样的厚度,m——试样的质量,s——试样的面积,单位为平方厘米(cm。d——试样的实测密度,单位为克每立方厘米(g/cn?)。取三个计算值的中值作为试验结果,结果取三位有效数字。用于评定成卷供货的薄膜的变形情况。

薄膜的变形可能有两种形式,a)偏移/弧形:薄膜平整地展开时,b)凹陷:薄膜的局部面积因受拉作,从而会出现低于总平面的凹陷部分(见图2和图3)。规定两种方法测量变形」原理:按ISO4591J991中的第2部分,根据膜卷的长度、平均宽度和净重以及薄膜的密度计算平均厚度。待定。按ISO1992中第2部分规定测定,沿样品纵向取5m,使薄膜处于放松状态1h后,沿纵向等距离测定宽度五次。记录每一宽度测定值,取中值作为该卷的宽度。a)方法A适用于窄的薄膜(小于150mm),其变形主要表现为偏移/孤形;b)方法B适用于较宽的薄膜(大于或等于150mm),其变形主要表现为凹陷。对于很厚的薄膜,由于其变形主要表现为凹陷

 

 

 

新款压汞法测试仪

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