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新款GEST系列硅片电阻率测试仪

新款GEST系列硅片电阻率测试仪

  • 产品型号:GEST-124
  • 更新时间:2020-07-06
  • 产品介绍:新款GEST系列硅片电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的专用仪器.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

粉末电阻率测试仪(四探针法)

产品名称:粉末电阻率试验仪(四探针法)

产品型号:GEST-124

参考标准:YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分:粉末电阻率的测定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法

GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作

产品概述:

粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.

由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电

阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.

仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量

试验设置通过触摸屏进行操作和设置,页面布局合理,人性化设计,可对测试结果进行打印。

 

 仪器主要技术指标:

一、 测量范围:

测量半导电电阻率时: 电阻率10-5--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm

                      测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 电压测量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  测量误差  2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3.  显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。

三、 恒流源:

1. 电流输出:1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    电流误差:±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极:

1、电极材质:铜

2、探针间距:1MM

五、粉末套筒:

1、内径:16mm

2、行程:50 mm

六、加载装置:

1、加载方式:手动加载

2、加载机构:杠杆液压加载

3、传感器量程:10KN

 

 

使主机重新处于谐振点(Q值*值)上。7.第二次按下主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn=.xxxxx,即完成测试。8.出错提示,当出现tn=NO显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1≤Q2和C1≤C2的错误情况。LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个,凡仪器在进行测试线圈的分布电容量,电容器的电容量,高频介质损耗,高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时,必须用电感组作辅助工具。本电感组有较高Q值,能使仪器测量时得到尖锐谐振点,因而增加其测量的准确度,1用锡箔纸覆胶在材料的两面,上下层锡箔纸不能接触。2超薄材料需要叠加:叠加方式如下μ贴合6层后测试;200μ贴合8层后测试;175μ贴合9层后测试;125μ贴合12层后测试;100μ贴合15层后测试;75μ贴合20层后测试;50μ贴合30层后测试。

 5.调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值*值)上,然后按一次主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置显示C0=xxx,记住厚度D2的值。6.取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量。

放入材料,测出材料厚度后取出材料,调回到刚才材料厚度,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C2,Q值读数为Q2。公式里的C0只是电感的分布电容值,2.把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。3.在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。4.被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直

 

 

 

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