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2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪

2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪

  • 产品型号:GCSTD-A/B
  • 更新时间:2020-03-27
  • 产品介绍:2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

一、满足标准:

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

 

1定义和测试原理

陶瓷材料的介质损耗角正切值(tand)是表示在某一频率交流电压作用下介质损耗的参数。所谓
介质损耗即是单位时间内消耗的电能。
由陶瓷材料制成的元器件,当它工作时,交变电压加在陶瓷介质上,并通过交变电流,这时陶瓷
介质连同与其相联系的金属部分,可以看成有损耗的电容器,并可用一个理想电容器和一个纯电阻器

试样

试样应符合GB 5593-85 «电子元器件结构陶瓷材料》的规定。
试样应进行清洗干燥处理。
试样在正常试验大气条件下放置不少于24h。

测量仪器和设备
测量仪器
可采用直读式损耗表、高频Q表、高频电桥及高频介质损耗测量仪等仪器。测量回路的Q值应大
于200。
加热炉
炉内温度应均匀。可用自动或手动方式进行控温,.控温范围为室温至500 C。在控温范围内任一个
温度值,在lOmin内温度波动不大于士 1°C。

夹具
可采用图3所示的三种形式中的任一种夹具。图3 a为一对尖地电极,材料用弹性铜片镀银,厚
0.6mm。用石英管或其他致密的高温绝缘材料制成的绝缘子支承,置于接地屏蔽盒内。图3 b为匚个
尖形和一个平板形电极。图3 a为一对圆平板形电极,平板之间距离用百分表(可读到0.01mm)显示。
圆平板直径应小于25mm。
3.4连接线
连接线要尽量短,*小于25cm,连接线为镀银铜片,宽10mm,厚0.6mm。连接线也可用屏
蔽线。

2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪

2020新款GCSTD系列高频介电常数测试仪

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