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新款GCSTD系列  微波介电常数分析仪

新款GCSTD系列 微波介电常数分析仪

  • 产品型号:GCSTD-D
  • 更新时间:2020-03-20
  • 产品介绍:新款GCSTD系列 微波介电常数分析仪满足标准:
    GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
    GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
    ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

电极系统

加到试样上的电极

电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时,其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间,这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表 飞给出。

对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和金属板都非常平整。图 〕所示的电极系统也要求试样厚度均匀

试样上不加电极

表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量,在这个电极系统中,试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。

平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。

下面两种型式的电极装置特别合适

空气填充测微计电极

当试样插人和不插人时,电容都能调节到同一个值 ,不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极

流体排出法

在电容率近似等于试样的电容率,而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量,这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时,试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。

边缘效应

为了避免边缘效应引起电容率的测量误差,电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度,保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环,通常需对边缘电容进行修正,表 工给出了近似计算公式 这些公式是经验公式,只适用于规定的几种特定的试样形状

此外,在一个合适的频率和温度下,边缘电容可采用有保护环和无保护环的(比较)测量来获得,用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求

 

试验方法:

接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

非接触法:适用于上下表面不平整、不光滑材料

电极类型:固定电极-测量电极φ38mm/φ50mm(标配电极1套,标配为38mm)

液体电极-液体容量15ml

粉体电极-根据样品量可配专用电极

试样类型:固体、液体、粉体、膏体/规则物或者不规则物

简要介绍

测试材料:

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估

介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性

 

  

新款GCSTD系列  微波介电常数分析仪

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