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新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

  • 产品型号:GCSTD-D
  • 更新时间:2020-03-20
  • 产品介绍:新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪满足标准:
    GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
    GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
    ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍

满足标准:

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

 ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

影响介电性能的因素

下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

1 频率

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和

电容率。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,*重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。

温度

损耗指数在一个频率下可以出现一个*值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数*值位置。

3 湿度

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的

注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内

4 电场强度

存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数*值的大小和位置也随此而变。

在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关

 

固体绝缘材料

5.1试样的几何形状

测定材料的电容率和介质损耗因数,*采用板状试样,也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时,*的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚度应足够大,以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。

对 1%的精确度来讲,1.5mm的厚度就足够了,但是对于更高精确度,*是采用较厚的试样,例如6mm-12mm 测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在士1%内。

如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度 选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量 10pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约 1pF,因此试样应薄些,直径为 10cm或更大些

需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小,即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小 同样,被测电容对总电容的比值要尽可能地大 *点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小。第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小,且试样电容要大。因此试样电容*取值为20pF,在测量回路中,与试样并联的电容不应大于约5pF,

试验报告

试验报告中应给出下列相关内容:

绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度

和试样在与电极接触的表面进行处理的情况);

试样条件处理的方法和处理时间;

电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型;

测量仪器;

试验时的温度和相对湿度以及试样的温度;

施加的电压;

施加的频率;

相对电容率。r(平均值);

介质损耗因数 tans(平均值);

试验 日期 ;

相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角,必要时,应给出与温度和频率的关系。

 

 

 

 

新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

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