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新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

  • 产品型号:GCSTD-D
  • 更新时间:2024-07-15
  • 产品介绍:新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪满足标准:
    GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
    GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
    ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
  • 在线留言 010-57223836/57223838

产品介绍

V、1测试信号电平监视功能

图形扫描分析功能

20组内部仪器设定可供储存/读取

内建比较器,10档分选及计数功能

多种通讯接口方便用户联机使用

2m/4m测试电缆扩展(选件)

中英文可选操作界面

可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序


测试材料:

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件

等的阳抗参数评估和性能分析。

半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析


品质:对产品的精益追求+严格规范的测试


价格:科学的管理成本+高效率合作降低成本

新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

客户:大中院校+科研机构+质检部门+实验室等


价值:为客户提供好的产品+好的服务


理念:天的质量就是明天的市场


公司所供产品均按照标准化研发 、严格测试并检验合格后才出厂的,质量和服务优质,质优价廉。


公司真诚欢迎全国朋友来电来函洽谈业务!!并预祝合作愉快!!可根据客户的不同需求开发标准、非标准设备


源于精测  精品摇篮 之选  自强不息  厚德载物  厚积薄发 高速增长


新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪

显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S 

 D 0.0001 ~ 9.9999 

 Q 0.0001 ~ 99999 

 θ -179.99°~ 179.99° 

测量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 









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