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高频介电常数及介质损耗测试仪

高频介电常数及介质损耗测试仪

  • 产品型号:GCSTD-B
  • 更新时间:2022-08-03
  • 产品介绍:高频介电常数及介质损耗测试仪
    编号:GD201310250003
    规格:GCSTD-B
    高频测量:20KHZ-160MHZ
    GCSTD-A/ B介电常数及介质损耗测试仪
    满足版本国家标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
  • 在线留言 010-57223838

产品介绍



2014热销*高频介电常数及介质损耗测试仪

2014热销*高频介电常数及介质损耗测试仪

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

、介电常数及介质损耗测试仪优越的技术指标

1.   双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2.   双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3.   双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4.   自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5.   全参数液晶显示 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6.   DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

7.   计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。


8.  使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。

技术特性

型号


7%±满度值的2%;

10MHz60MHz

8%±满度值的2

电感测量范围

4.5nH 140mH


五、

a.消耗功率:约25W

b.净重:约7kg

c. 外型尺寸:(l×b×hmm380×132×280

d.测试样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm  厚度为0.5-15MM

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